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研究テーマ

炭素材料の細孔構造

小角X線散乱(Small Angle X-ray Scattering : SAXS)はナノ構造マテリアルの構造を調べるのに最も有効な手法の一つです。炭素材料の性質は細孔の構造や密度に大きく影響します。私達は、炭素材料の小角X線散乱の測定を行っています。

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