トップ > 主要装置 > 小角X線散乱測定装置

主要装置

小角X線散乱測定装置

小角X線散乱(SAXS)法は、ナノマテリアル、ソフトマター、溶液などの構造を決定するのに有効な手法です。当研究室のSAXSess (Figure 1) では各種溶液やイオン液体を測定します。また我々は高エネルギー加速器研究機構(KEK)のフォトンファクトリー(PF)に設置されているSAXS測定ステーショでも測定を行っています。シンクロトロン放射光を使うことにより迅速な測定が可能であり、極めて質の良いデータが得られます。

Figure 1. SAXSess (Anton Paar), Focusing multilayer optics + Kratky slit, λ = 1.54Å (CuKα), s > 0.077 nm-1

ページの先頭へ戻る

  • 講演予定
  • 主催シンポジウム
  • 主要装置
  • 発表論文
  • フォトアルバム